Framleiðandi Vöru númer:
SN74LVTH18646APMG4
Product Overview
Framleiðandi:
Texas Instruments
Völu númer:
SN74LVTH18646APMG4-DG
Lýsing:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Mikilvægar upplýsingar:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Birgðir:
683 Stk Nýtt Upprunalegt Á Lager
1863221
Óska eftir tilboði
Magn
Minimum 1
Minimum 1
(*) er skylda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
STILLTA
SN74LVTH18646APMG4 Tæknilegar forskriftir
Flokkur
Rökhugsun, Sérstök rökfræði
Framleiðandi
Texas Instruments
Pakkning
Bulk
Röð
74LVTH
Staða vöru
Active
Rökfræði gerð
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Framboð Voltage
2.7V ~ 3.6V
Fjöldi bita
18
Hitastig rekstrar
-40°C ~ 85°C
Gerð uppsetningar
Surface Mount
Pakki / hulstur
64-LQFP
Birgir tæki pakki
64-LQFP (10x10)
Grunnvörunúmer
74LVTH18646
Gagnaablað & Skjöl
Gagnablöð
Aukainformation
Venjulegur pakki
160
Önnur nöfn
SN74LVTH18646APMG4INACTIVE
TEXTISSN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APMG4
Umhverfis- og útflutningsflokkun
RoHS staða
ROHS3 Compliant
Rakanæmi (MSL)
2 (1 Year)
REACH staða
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI vottun
Tengdar vörur
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN
M38510/34201BFA
4-BIT BINARY FULL ADDERS WITH FA