SN74BCT8374ANTG4
Framleiðandi Vöru númer:

SN74BCT8374ANTG4

Product Overview

Framleiðandi:

Texas Instruments

Völu númer:

SN74BCT8374ANTG4-DG

Lýsing:

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Mikilvægar upplýsingar:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP

Birgðir:

1667859
Óska eftir tilboði
Magn
Minimum 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) er skylda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
STILLTA

SN74BCT8374ANTG4 Tæknilegar forskriftir

Flokkur
Rökhugsun, Sérstök rökfræði
Framleiðandi
Texas Instruments
Pakkning
-
Röð
74BCT
Staða vöru
Obsolete
Rökfræði gerð
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Framboð Voltage
4.5V ~ 5.5V
Fjöldi bita
8
Hitastig rekstrar
0°C ~ 70°C
Gerð uppsetningar
Through Hole
Pakki / hulstur
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Birgir tæki pakki
24-PDIP
Grunnvörunúmer
74BCT8374

Gagnaablað & Skjöl

Gagnablöð

Aukainformation

Venjulegur pakki
60
Önnur nöfn
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4

Umhverfis- og útflutningsflokkun

RoHS staða
ROHS3 Compliant
Rakanæmi (MSL)
1 (Unlimited)
REACH staða
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001

Valkostamódeli

Partanúmer
SN74BCT374N
FRAMLEIÐANDI
Texas Instruments
Fjöldi í boði
0
HLUTARNÁMR
SN74BCT374N-DG
Einingaverð
4.14
VÖRUVAL
MFR Recommended
DIGI vottun
Tengdar vörur
microchip-technology

SY10EL16VKC-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY10EL16VKC

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY100EP16VKG-TR

IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP

microchip-technology

SY58601UMI-TR

IC LDRVR/RCVR LVPECL 800MV 8MLF