Framleiðandi Vöru númer:
SN74BCT8374ANTG4
Product Overview
Framleiðandi:
Texas Instruments
Völu númer:
SN74BCT8374ANTG4-DG
Lýsing:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Mikilvægar upplýsingar:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
Birgðir:
1667859
Óska eftir tilboði
Magn
Minimum 1
Minimum 1
(*) er skylda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
STILLTA
SN74BCT8374ANTG4 Tæknilegar forskriftir
Flokkur
Rökhugsun, Sérstök rökfræði
Framleiðandi
Texas Instruments
Pakkning
-
Röð
74BCT
Staða vöru
Obsolete
Rökfræði gerð
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Framboð Voltage
4.5V ~ 5.5V
Fjöldi bita
8
Hitastig rekstrar
0°C ~ 70°C
Gerð uppsetningar
Through Hole
Pakki / hulstur
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Birgir tæki pakki
24-PDIP
Grunnvörunúmer
74BCT8374
Gagnaablað & Skjöl
Gagnablöð
Aukainformation
Venjulegur pakki
60
Önnur nöfn
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4
Umhverfis- og útflutningsflokkun
RoHS staða
ROHS3 Compliant
Rakanæmi (MSL)
1 (Unlimited)
REACH staða
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Valkostamódeli
Partanúmer
SN74BCT374N
FRAMLEIÐANDI
Texas Instruments
Fjöldi í boði
0
HLUTARNÁMR
SN74BCT374N-DG
Einingaverð
4.14
VÖRUVAL
MFR Recommended
DIGI vottun
Tengdar vörur
SY10EL16VKC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY10EL16VKC
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY100EP16VKG-TR
IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP
