Framleiðandi Vöru númer:
SN74BCT8373ANT
Product Overview
Framleiðandi:
Texas Instruments
Völu númer:
SN74BCT8373ANT-DG
Lýsing:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Mikilvægar upplýsingar:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP
Birgðir:
1683754
Óska eftir tilboði
Magn
Minimum 1
Minimum 1
(*) er skylda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
STILLTA
SN74BCT8373ANT Tæknilegar forskriftir
Flokkur
Rökhugsun, Sérstök rökfræði
Framleiðandi
Texas Instruments
Pakkning
-
Röð
74BCT
Staða vöru
Obsolete
Rökfræði gerð
Scan Test Device with D-Type Latches
Framboð Voltage
4.5V ~ 5.5V
Fjöldi bita
8
Hitastig rekstrar
0°C ~ 70°C
Gerð uppsetningar
Through Hole
Pakki / hulstur
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Birgir tæki pakki
24-PDIP
Grunnvörunúmer
74BCT8373
Gagnaablað & Skjöl
Gagnablöð
Aukainformation
Venjulegur pakki
15
Önnur nöfn
2156-SN74BCT8373ANT-TI
SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4-DG
TEXTISSN74BCT8373ANT
SN74BCT8373ANT-DG
296-33848-5
Umhverfis- og útflutningsflokkun
RoHS staða
ROHS3 Compliant
Rakanæmi (MSL)
1 (Unlimited)
REACH staða
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Valkostamódeli
Partanúmer
SN74BCT8373ADW
FRAMLEIÐANDI
Texas Instruments
Fjöldi í boði
0
HLUTARNÁMR
SN74BCT8373ADW-DG
Einingaverð
9.11
VÖRUVAL
MFR Recommended
DIGI vottun
Tengdar vörur
SN74ABT8543DLR
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
SN74ACT1284NSR
IC 7BIT BUS INTERFC 3ST 20SO
SN74LV161284DL
IC 19-BIT BUS INTERFACE 48-SSOP
