Framleiðandi Vöru númer:
SN74ABT18652PM
Product Overview
Framleiðandi:
Texas Instruments
Völu númer:
SN74ABT18652PM-DG
Lýsing:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Mikilvægar upplýsingar:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Birgðir:
1545477
Óska eftir tilboði
Magn
Minimum 1
Minimum 1
(*) er skylda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
Við munum hafa samband við þig innan 24 klukkustunda
STILLTA
SN74ABT18652PM Tæknilegar forskriftir
Flokkur
Rökhugsun, Sérstök rökfræði
Framleiðandi
Texas Instruments
Pakkning
Tray
Röð
74ABT
Staða vöru
Active
Rökfræði gerð
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Framboð Voltage
4.5V ~ 5.5V
Fjöldi bita
18
Hitastig rekstrar
-40°C ~ 85°C
Gerð uppsetningar
Surface Mount
Pakki / hulstur
64-LQFP
Birgir tæki pakki
64-LQFP (10x10)
Grunnvörunúmer
74ABT18652
Gagnaablað & Skjöl
Gagnablöð
Aukainformation
Venjulegur pakki
160
Önnur nöfn
-SN74ABT18652PMG4-NDR
296-3944
TEXTISSN74ABT18652PM
296-3944-NDR
-SN74ABT18652PM-NDR
-296-3944-DG
-296-3944-NDR
-SN74ABT18652PMG4
2156-SN74ABT18652PM
-296-3944
SN74ABT18652PMG4
SN74ABT18652PMG4-DG
Umhverfis- og útflutningsflokkun
RoHS staða
ROHS3 Compliant
Rakanæmi (MSL)
3 (168 Hours)
REACH staða
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI vottun
Tengdar vörur
SN74GTLP2034DGGR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 48-TSSOP
SN74FB2041ARCG3
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP
SN74BCT8374ADWR
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
